제목 

분석장비 - 전자현미경 시료전처리

 제품명

다목적 이온빔 밀링 시스템

 카테고리

분석장비 

 용도

TEM, SEM 및 LM 시료 전처리 기능

 포장단위

문의 바랍니다.

 그 외 특성

 시료를 Thin, Clean, polish, cut slopes 및 Structure하는데 최적화되어 있으며, 하나의 Bench-top 장비에서 TEM, SEM 및 LM 시료 전처리 기능이 결합된 유일한 이온빔 밀링 시스템 입니다.